四探針粉體電導率測試儀四端法電阻率測量儀四探針法測量材料電阻的核心優(yōu)勢在于其獨特的探針設(shè)計及測量原理，具體優(yōu)點可歸納如下：

一、消除接觸電阻與導線電阻干擾

四探針粉體電導率測試儀四端法電阻率測量儀 電流-電壓探針分離：外側(cè)兩探針注入電流，內(nèi)側(cè)兩探針測量電壓，因電壓探針輸入阻抗，流經(jīng)電流極小，接觸電阻產(chǎn)生的壓降可忽略不計。

獨立測量回路：電壓測量僅依賴探針間電勢差，與導線電阻無關(guān)，避免傳統(tǒng)兩探針法中串聯(lián)電阻導致的誤差。

二、適用性廣泛

材料范圍寬：適用于高阻（如半導體）到低阻（如金屬）材料的測量，覆蓋電阻率范圍廣（10??～103 Ω·cm）。

樣品形狀靈活：對樣品平整度或厚度要求較低，可測量薄膜、塊體、不規(guī)則形狀材料，甚至粉末壓片。

三、測量精度高

電流場穩(wěn)定：固定探針間距設(shè)計使電流分布均勻，減少邊緣效應影響。

非破壞性測量：無需制備合金電極，不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)，適合工藝監(jiān)控與重復測試。

四、操作便捷高效

快速測量：無需復雜校準，可直接通過公式（如ρ= (V/I) × 2πS）計算電阻率。

環(huán)境適應性：測量結(jié)果受溫濕度影響小，實驗室與工業(yè)場景均適用。

五、特殊場景優(yōu)勢

薄層材料：通過修正系數(shù)（如4.532）簡化超薄樣品（如半導體圓片）的電阻率計算。

不均勻性分析：可沿樣品徑向測量斷面電阻率，觀察電阻率分布差異。

綜上，四探針法通過分離電流與電壓回路、優(yōu)化探針布局，實現(xiàn)了高精度、高適應性的電阻測量，成為半導體、電池材料等領(lǐng)域的主流方法。

參數(shù)

1. 便于查看的顯示/直觀的操作性：高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD顯示；操作易學，直觀使用；

2. 基本設(shè)置操作簡單，方阻、電阻、電阻率、電導率和分選結(jié)果；多種參數(shù)同時顯示。

3. 精度高：電阻基本準確度： 0.01％；

方阻基本準確度：1%；

電阻率基本準確度：1%

4. 整機測量相對誤差：≤±1%；整機測量標準不確定度：≤±1%

5. 四位半顯示讀數(shù)；十量程自動或手動測試；20mΩ/200mΩ/2000mΩ/20Ω/200Ω/2000Ω/20kΩ/200kΩ/2000ΚΩ/10ΜΩ 10檔分選；實現(xiàn)HIGH/IN/LOW分選

6. 測量范圍寬： 電阻：10-7Ω～10+8Ω ；方阻：10-7Ω/□～10+8Ω/□；

7. 正反向電流源修正測量電阻誤差

8. 恒流源：電流量程為：DC100mA-1A；儀器配有恒流源開關(guān)可有效保護被測件，即先讓探針頭壓觸在被測材料上，后開恒流源開關(guān)，避免接觸瞬間打火。為了提高工作效率，如探針帶電壓觸單晶對材料及測量并無影響時，恒流源開關(guān)可一直處于開的狀態(tài)。

9. 可配合多種探頭進行測試；也可配合多種測試臺進行測試。

10. 校正功能：可手動或自動選擇測試量程 全量程自動清零。

11. 厚度可預設(shè)，自動修正樣品的電阻率,無需查表即可計算出電阻率。

12. 自動進行電流換向,并進行正反向電流下的電阻率(或方塊電阻)測量,顯示平均值.測薄片時,可自動進行厚度修正。

13. 雙電測測試模式，測量精度高、穩(wěn)定性好.

14. 具備溫度補償功能，修正被測材料溫漂帶來的測試結(jié)果偏差。

15. 比較器判斷燈直接顯示，勿需查看屏幕，作業(yè)效率得以提高。3檔分選功能：超上限，合格，超下限，可對被測件進行HI/LOW判斷，可直接在LCD使用標志顯示；也可通過USB接口、RS232接口輸出更為詳細的分選結(jié)果。

16. 測試模式：可連接電腦測試、也可不連接電腦單機測試。

17. 軟件功能（選配）：軟件可記錄、保存、各點的測試數(shù)據(jù)；可供用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分

析。

18.顯示語言 英文/中文

19.供電模式110v/220v